FantasticSearch

1. ნებისმიერ პირს აქვს უფლება, პატენტის მოქმედების ვადის განმავლობაში მიმართოს საქპატენტს პატენტის ბათილად ცნობის მიზნით და მოითხოვოს საქპატენტის მიერ გაცემულ გამოგონების პატენტზე ან ვალიდირებულ ევროპულ პატენტზე ხელახალი ექსპერტიზის ჩატარება.

2. გამოგონების პატენტზე ხელახალი ექსპერტიზის ჩატარების შესახებ განცხადებას უნდა დაერთოს:

    ა) წერილობითი დასაბუთება იმისა, რომ არსებობს ამ მუხლის მე-4 პუნქტით გათვალისწინებული პატენტის ბათილად ცნობის საფუძველი;

    ბ) ყველა დოკუმენტი, რომლებსაც დაინტერესებული მხარე ეყრდნობოდა ამ პუნქტის „ა“ ქვეპუნქტით გათვალისწინებული დასაბუთების შედგენისას. ამასთანავე, თუ ამ ქვეპუნქტით გათვალისწინებული დოკუმენტები უცხოურ ენაზეა წარდგენილი, დაინტერესებული მხარე ვალდებულია 1 თვის ვადაში წარადგინოს მათი ქართული თარგმანი. მისი წარუდგენლობის შემთხვევაში უცხოურ ენაზე წარდგენილი დოკუმენტები წარდგენილად არ მიიჩნევა.

3. გამოგონების პატენტზე ხელახალი ექსპერტიზის ჩატარების შესახებ განცხადების წარდგენიდან 2 თვის ვადაში პატენტის მფლობელს უფლება აქვს, წარადგინოს წერილობითი შეპასუხება, რომელიც გათვალისწინებული იქნება გამოგონების პატენტზე ხელახალი ექსპერტიზის ჩატარების დროს.

4. საქპატენტი გამოგონების პატენტზე ჩატარებული ხელახალი ექსპერტიზის საფუძველზე იღებს გადაწყვეტილებას პატენტის სრულად ან ნაწილობრივ ბათილად ცნობის შესახებ, თუ დადგინდა, რომ:

    ა) პატენტის საგანი პატენტუნარიანი არ არის;

    ბ) პატენტი გამოგონებას არ აღწერს ისეთი სისრულით, რომ შესაძლებელი იყოს მისი განხორციელება;

    გ) პატენტის საგანი განეკუთვნება ისეთ ობიექტს, რომელიც, ამ კანონის მე-16 მუხლის შესაბამისად, გამოგონებად არ მიიჩნევა;

    დ) პატენტის საგანი განეკუთვნება ისეთ ობიექტს, რომელზედაც, ამ კანონის მე-17 მუხლის შესაბამისად, პატენტი არ გაიცემა;

    ე) პატენტის საგანი სცდება შეტანილი განაცხადის შინაარსის ფარგლებს, ან პატენტი გაცემულია გამოყოფილი განაცხადის საფუძველზე და მისი საგანი სცდება შეტანილი პირველი განაცხადის შინაარსის ფარგლებს;

    ვ) პატენტით განსაზღვრული დაცვის ფარგლები გაფართოვდა.

5. პატენტის სრულად ან ნაწილობრივ ბათილად ცნობის შესახებ მონაცემები ქვეყნდება ბიულეტენში და შეიტანება რეესტრში.

6. გამოგონების პატენტზე ხელახალი ექსპერტიზის ჩატარების წესი განისაზღვრება ინსტრუქციით.